دانلود مقاله ترجمه شده قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد


چطور این مقاله مهندسی برق را دانلود کنم؟

فایل انگلیسی این مقاله با شناسه 2001518 رایگان است. ترجمه چکیده این مقاله مهندسی برق در همین صفحه قابل مشاهده است. شما می توانید پس از بررسی این دو مورد نسبت به خرید و دانلود مقاله ترجمه شده اقدام نمایید

قیمت :
1,160,000 ریال
شناسه محصول :
2001518
سال انتشار:
2010
حجم فایل انگلیسی :
650 Kb
حجم فایل فارسی :
591 کیلو بایت
نوع فایل های ضمیمه :
Pdf+Word
کلمه عبور همه فایلها :
www.daneshgahi.com

عنوان فارسي

قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد

عنوان انگليسي

Fault tolerance and reliability in fieldprogrammable gate arrays

نویسنده/ناشر/نام مجله

IET Computers & Digital Techniques

این مقاله چند صفحه است؟

این مقاله ترجمه شده مهندسی برق شامل 15 صفحه انگلیسی به صورت پی دی اف و 41 صفحه متن فارسی به صورت ورد تایپ شده است

چکیده فارسی


چکیده

کاهش قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش  تنوع در پروسه های within-die را می­توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه ریزی-فیلد(FPGA) دانست که منجر به توسعه ی پویای خطاها در طول چرخه ی عمر مدار ادغام یافته میشود. خوشبختانه، FPGA ها  توانایی پیکربندی مجدد در فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین خطاهایی فراهم می­سازند. این مطالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد. همه ی متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد تأکید قرار گرفته اند.

واژگان کلیدی: قابلیت اطمینان، تحمل پذیری در برابر خطا، درگاه قابل برنامه ریزی فیلد،

1-مقدمه

با توجه به اینکه روز به روز بر چالش های مرتبط با مدار های ادغام یافته اعم از بروز خطا، معایب، قابلیت تغییر پروسه ها و قابلیت اطمینان می­گذرد، آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی0فیلد از این قاعده مستثنی نیستند؛ یکی از مطالعه هایی که در این زمینه صورت  گرفته است پیشنهاد داده است که تحمل پذیری را میتوان برای FPGA ها در آینده و فراتر از تکنولوژی گره ی 45 نانومتری ضروری دانست[1]. FPGA دارای مزایایی کلیدی برای مدار های ادغام یافته ی خاصی برای رسیدن به هدف تحمل پذیری در برابر خطا میباشد. در ابتدا، FPGA ها شامل آرایه هایی از منابع جنریک بوده که افزونگی ذاتی را برای آنها به همراه دارد. دوم اینکه آنها را میتوان در فیلد پیکربندی کرد. این موارد بر روی دامنه ای از پژوهش ها و سیستم های پایدار در برابر خطا بکار گرفته شده است...

قابلیت اطمینان تحمل پذیری در برابر خطا آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد :کلمات کلیدی

چکیده انگلیسی


Abstract

Reduced device-level reliability and increased within-die process variability will become serious issues for future field-programmable gate arrays (FPGAs), and will result in faults developing dynamically during the lifetime of the integrated circuit. Fortunately, FPGAs have the ability to reconfigure in the field and at runtime, thus providing opportunities to overcome such degradation-induced faults. This study provides a comprehensive survey of fault detection methods and fault-tolerance schemes specifically for FPGAs and in the context of device degradation, with the goal of laying a strong foundation for future research in this field. All methods and schemes are quantitatively compared and some particularly promising approaches are highlighted

 
Keywords: Fault tolerance fieldprogrammable gate arrays
این برای گرایش های: مهندسی برق الکترونیک، کاربرد دارد. سایر ، را ببینید. همچنین این در گرایش های: سخت ‌افزار، می تواند کاربرد داشته باشد. سایر ، را ببینید. [ برچسب: ]
 مقاله مهندسی برق با ترجمه
Skip Navigation Linksصفحه اصلی > دپارتمان ها > دپارتمان فنی و مهندسی > مهندسی برق > مقاله های مهندسی برق و ترجمه فارسی آنها > قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
کتابخانه الکترونیک
دانلود مقالات ترجمه شده
جستجوی مقالات
با انتخاب رشته مورد نظر خود می توانید مقالات ترجمه شده آن رو به صورت موضوع بندی شده مشاهده نمایید