دانلود مقاله ترجمه شده ویژگی‌های میکروساختاری و الکترونیکی فیلم‌های نازک الماس بلورین اولترانانو


چطور این مقاله فیزیک را دانلود کنم؟

فایل انگلیسی این مقاله با شناسه 2009421 رایگان است. ترجمه چکیده این مقاله فیزیک در همین صفحه قابل مشاهده است. شما می توانید پس از بررسی این دو مورد نسبت به خرید و دانلود مقاله ترجمه شده اقدام نمایید

قیمت :
1,135,000 ریال
شناسه محصول :
2009421
سال انتشار:
2020
حجم فایل انگلیسی :
2 Mb
حجم فایل فارسی :
2 مگا بایت
نوع فایل های ضمیمه :
pdf+word
کلمه عبور همه فایلها :
www.daneshgahi.com

عنوان فارسي

ویژگی‌های میکروساختاری و الکترونیکی فیلم‌های نازک الماس بلورین اولترانانو

عنوان انگليسي

Microstructure and electronic properties of ultra-nano-crystalline-diamond thin films

نویسنده/ناشر/نام مجله

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

این مقاله چند صفحه است؟

این مقاله ترجمه شده فیزیک شامل 7 صفحه انگلیسی به صورت پی دی اف و 18 صفحه متن فارسی به صورت ورد تایپ شده است

چکیده فارسی

چکیده

فیلم‌های نازک الماس بلورین اولترانانو (UNCD) با ضخامت متوسط ، روی زیرلایه‌های سیلیکون پولیش‌شده آینه‌ای نوع n (100) با استفاده از سیستم لایه‌نشانی شیمیایی بخار ارتقا یافته با پلاسمای مایکروویو در جوهای پلاسمایی ترکیبات گازی مختلف () در 1200 وات () و در فشار 120 تور با دمای پلاسمای  رشد یافتند. طیف‌سنجی رامان برای مطالعه میکروساختاری به کار رفت و دندانه‌گذاری نانویی برای مطالعه مدول‌های سختی/یانگ مورد استفاده قرار گرفت در حالی که ساختار لبه نزدیک جذب پرتوی ایکس، طیف‌سنجی‌های فوتوالکترون پرتوی ایکس و انتشار نوری فرابنفش برای ساختار الکترونی فیلم‌های نازک UNCD به کار رفتند. سختی فیلم‌ها ، مدول یانگ ، و گسیل میدان الکترون القایی، یعنی برقراری میدان الکتریکی به دست آمد. همه نتایج نشان می‌دهند که UNCD می‌تواند برای ابزارهای مختلف صنعتی نیم‌رسانا/اپتوالکترونیک و به عنوان مواد منعطف برای فناوری پوشش‌دهی فیلم نازک مفید باشد.

1-مقدمه

فیلم‌های نازک الماس بلورین اولترانانو (UNCD) دارای دانه‌های الماس فوق کوچک بین 5-10 نانومتر و مشخصات سطح هموار با یک شکل ویژه از فیلم‌های الماس است....

فیلم‌های نازک الماس بلورین :کلمات کلیدی

چکیده انگلیسی

Abstract

Ultra-nano-crystalline diamond (UNCD) thin films with average thickness 200 nm, were grown on n-type mirror polished silicon (100) substrates using microwave plasma enhanced chemical vapour deposition system in different gas (H2 - N 2 - Ar - CH 4) composition plasma atmospheres at 1200 W (2.45 GHz) and in a pressure of 120 Torr with plasma-temperature 475 °C. Raman spectroscopy was used for microstructural study and nano indentation was used for Hardness/Young’s modulus study; whereas X-ray absorption near edge structure, X-ray photoelectron and ultraviolet photoemission spectroscopies were used for electronic structure of UNCD thin films. The hardness of the films is found to be 30 GPa, Youngs modulus 300 GPa and induced electron field emission, the turn on electric field, ETOE = 11 V/ μm. All results show that the UNCD could be useful for different industrial semiconductor/optoelectronic devices and as flexible materials for thin film coating technology.

Keywords: UNCD Raman spectroscopy Hardness/Young’s modulus
این برای گرایش های: کلیه گرایش ها، کاربرد دارد. همچنین این در گرایش های: کلیه گرایش ها، می تواند کاربرد داشته باشد. همچنین این در گرایش های: کلیه گرایش ها، می تواند کاربرد داشته باشد. همچنین این در گرایش های: کلیه گرایش ها، می تواند کاربرد داشته باشد. [ برچسب: ]
 مقاله فیزیک با ترجمه
Skip Navigation Linksصفحه اصلی > دپارتمان ها > دپارتمان فنی و مهندسی > مهندسی مواد > مقاله های مهندسی مواد و ترجمه فارسی آنها > ویژگی‌های میکروساختاری و الکترونیکی فیلم‌های نازک الماس بلورین اولترانانو
کتابخانه الکترونیک
دانلود مقالات ترجمه شده
جستجوی مقالات
با انتخاب رشته مورد نظر خود می توانید مقالات ترجمه شده آن رو به صورت موضوع بندی شده مشاهده نمایید