دانلود مقاله ترجمه شده روشی کارآمد به منظور تخمین بازدهیِ شبکه‌ی روی تراشه (Noc)، بر مبنای تکنیک نمونه برداری گیبز


چطور این مقاله مهندسی کامپیوتر و IT را دانلود کنم؟

فایل انگلیسی این مقاله با شناسه 2005614 رایگان است. ترجمه چکیده این مقاله مهندسی کامپیوتر و IT در همین صفحه قابل مشاهده است. شما می توانید پس از بررسی این دو مورد نسبت به خرید و دانلود مقاله ترجمه شده اقدام نمایید

قیمت :
985,000 ریال
شناسه محصول :
2005614
سال انتشار:
2016
حجم فایل انگلیسی :
1 Mb
حجم فایل فارسی :
1 مگا بایت
نوع فایل های ضمیمه :
Pdf+Word
کلمه عبور همه فایلها :
www.daneshgahi.com

عنوان فارسي

روشی کارآمد به منظور تخمین بازدهیِ شبکه‌ی روی تراشه (Noc)، بر مبنای تکنیک نمونه برداری گیبز

عنوان انگليسي

An Efficient Network-on-Chip Yield Estimation Approach Based on Gibbs Sampling

نویسنده/ناشر/نام مجله

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS

این مقاله چند صفحه است؟

این مقاله ترجمه شده مهندسی کامپیوتر و IT شامل 11 صفحه انگلیسی به صورت پی دی اف و 31 صفحه متن فارسی به صورت ورد تایپ شده است

چکیده فارسی

چکیده

یک شبکه‌ روی تراشه (NoC) که می توان آن را یک تراشه‌ سیستمی نسبتاً پایدار و غنی از نظر افزونگی دانست، به دلیل ادغام بزرگ مقیاس آن، در معرض آسیب پذیری هایی قرار می گیرد. بنابراین مطلوب است تا NoC را در همان فاز اولیه‌ طراحی تحلیل کرد. روش مونت کارلو (MC) به منظور تحلیل NoC در سطح سیستم ارائه گردیده است؛ اگرچه این روش را نمی توان کارآمد دانست چرا که نیاز به انجام تعداد زیادی شبیه سازی دارد. در این مقاله، یک روش نمونه برداری گیبز را ارائه می دهیم که می تواند به شکلی کارآمد به ایجاد نمونه هایی معیوب از NoC و آنهم به عنوان نمونه های شبیه سازی پرداخته تا بتوان به تخین بازدهی این شبکه‌ روی تراشه پرداخت. این روش می تواند به طور قابل ملاحظه ای تعداد شبیه سازی های مورد نیاز را کاهش داده تا بتواند به تخمین صحیحی از بازدهی دست پیدا کند. مسائل پیاده سازی نظیر انتخاب نمونه‌ اولیه، محاسبه‌ توزیع های شرطی و معیار توقف در جهت سفارشی سازی روش نمونه برداری گیبز برای تحلیل بازدهی NoC نیز مورد بحث قرار خواهد گرفت. فرصت های بهینه سازی احتمالی برای بهبود بهره وری نمونه برداری گیبز نیز مورد بررسی و کاوش قرار خواهد گرفت. در مقایسه با روش MC، نتایج آزمایشی ما نشان می دهد که روش پیشنهادی ما می تواند زمان اجرای شبیه سازی را بین 5 تا 100 برابری برای NoC های پر بازده (با نرخ خرابی برابر با 10-5 - 10-2) کاهش داده و در عین حال به همان سطح از میزان صحت در جهت تخمین بازدهی دست پیدا کند.

1-مقدمه

شبکه‌ روی تراشه (NoC) که می تواند ده ها و یا حتی صدها هسته‌ پردازشی را بر روی یک تراشه ادغام نماید، یک راهکار نوید بخشی برای پاسخ به افزایش تقاضاهای رایانشی می باشد [1]-[3]. با توجه به ادغام هسته های پردازشی و المان های شبکه در مقیاسی بزرگ، محیط سیلیکونی یک NoC به طور قابل ملاحظه ای در معرض نوسانات پردازش و معایب تولیدی قرار می گیرد [4] و منجر به کاهش بازدهی آن می شود [5]. به منظور بهینه سازی طراحی یک NoC برای بهینه سازی، ضروری است تا بازدهی NoC را با میزان صحت کافی و آنهم در سطح سیستم و در فازهای اولیه‌ طراحی تخمین زد...

نمونه برداری گیبز شبکه‌ روی تراشه (NoC) بازدهی :کلمات کلیدی

چکیده انگلیسی

Abstract

A network-on-chip (NoC), a redundancy-rich and thus relatively robust system-chip, is still vulnerable to defects due to its large-scale integration. Thus, it is desirable to analyze the NoC yield in an early design phase. A Monte Carlo (MC) approach was proposed for the NoC yield analysis at the system level; however, it is inefficient due to the requirement of a large number of simulation runs. In this paper, we propose a Gibbs sampling approach, which can efficiently generate failed NoC instances as simulation samples, for yield estimation. This approach significantly reduces the number of required simulation runs for obtaining an accurate yield estimation. Implementation issues, such as initial sample selection, calculation of conditional distributions, and stop criterion, to customize Gibbs sampling for the NoC yield analysis are discussed. Potential optimization opportunities to further improve Gibbs sampling's efficiency are also explored. Compared to the MC approach, our experimental results show that the proposed approach can reduce the simulation runtime by 5×-100× for a high-yield NoC (a failure rate at 10-2-10-5), while achieving the same level of accuracy for yield estimation

Keywords: Gibbs sampling network-on-chip (NoC) yield
Skip Navigation Linksصفحه اصلی > دپارتمان ها > دپارتمان فنی و مهندسی > مهندسی کامپیوتر و IT > مقاله های مهندسی کامپیوتر و IT و ترجمه فارسی آنها > روشی کارآمد به منظور تخمین بازدهیِ شبکه‌ی روی تراشه (Noc)، بر مبنای تکنیک نمونه برداری گیبز
کتابخانه الکترونیک
دانلود مقالات ترجمه شده
جستجوی مقالات
با انتخاب رشته مورد نظر خود می توانید مقالات ترجمه شده آن رو به صورت موضوع بندی شده مشاهده نمایید